武漢天康儀表剖析如何使用單片機消除熱電阻測量誤差？下面具體介紹了一種基于MCS-51單片機的測量系統，闡述了如何利用單片機消除熱敏電阻的非線性以及運算放大器的溫度漂移、增益漂移的補償方法。
半導體熱電阻結構簡單,其電阻值大,反應速度快,靈敏,不受外界的影響,但是我們正常采用的熱敏電阻是具有負溫度特性的非線性元器件,且輸出電勢比較小,必須經過放大才能滿足ADC的輸入要求,放大電路的誤差主要來源于放大器的失調電壓和增益AV的漂移,介紹單片機對上述測量誤差,進行修正。2針對半導體熱敏電阻非線性的影響熱敏電阻負溫度特性的非線性,其關系如下:RT=AEB/T此非線性使得它很難用相關的電路來進行補值,在使用有微處理器的系統中很好的解決這個問題。實踐證明因電路的離散性直接使用此公式的誤差很大,使用數字工具我們辦需簡單的測量溫度和模數轉換結果之間的關系,通過實測有限個數據點。利用多次式擬合的方法在MATLAB中編寫一個程序使可以實現,使用四階多項式擬合可滿足要求實際應用。
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